IEEE 300-1988 半导体带电粒子探测器试验规程
时间:2024-05-04 08:20:14 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：9761
【英文标准名称】:Testproceduresforsemiconductorcharged-particledetectors
【原文标准名称】:半导体带电粒子探测器试验规程
【标准号】:IEEE300-1988
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1988
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;测量技术;辐射测量;半导体器件;半导体;试验规程;检波器;辐射计
【英文主题词】:Detectors(circuits);Measuringtechniques;Radiationmeasurement;Radiationmeters;Semiconductordevices;Semiconductors;Testprocedures;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:F84
【国际标准分类号】:17_240
【页数】:27P;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:NorthAmericanStandardforCold-FormedSteelFraming-TrussDesign
【原文标准名称】:冷轧成型钢结构的北美标准.构架设计
【标准号】:ANSI/AISICOFS/TRUSS-2007
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2007
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(ANSI)
【起草单位】:ANSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:冷成型;金属加工;钢;钢结构作业;桁架(框架)
【英文主题词】:Cold-forming;Metalworking;Steels;Structuralsteelwork;Trusses(frames)
【摘要】:
【中国标准分类号】:H40;Q73
【国际标准分类号】:77_140_01
【页数】:
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:InformationTechnology-OfficeEquipment-MinimumInformationtobeIncludedinSpecificationSheets-Printers-Part1:Class1andClass2Printers
【原文标准名称】:信息技术.办公设备.规格张中含有的最少信息.打印机.第1部分:1类和2类打印机
【标准号】:ANSI/INCITS/ISO/IEC11160-1-1996
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1996
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:ANSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:办公机器;信息技术;数据处理
【英文主题词】:Computers;Dataprocessing;Informationtechnology;Minimuminformation;Officemachines;Printers;Technicaldatasheets;Userinformation
【摘要】:ThispartofISO/IEC11160specifiestheminimuminformationthatistobeincludedinthespecificationsheetsofprinterssothatusersmaycomparethecharacteristicsofdifferentmachinesandselectaprinterwhichmeetstheirrequirements.ISO/IEC11160willcoverdifferentclassesofprinters.ThispartcoversClass1andClass2printers,asdefinedinannexA.
【中国标准分类号】:L63
【国际标准分类号】:35_180
【页数】:
【正文语种】:英语